Benbahouche, Ly.: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (5)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Numerical analysis and comparative study of short circuit stress in IGBTs devices (IR, IXYS)

Ly. Benbahouche, A. Merabet, A. Zegadi

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.25 MB

english, 2007

2

[IEEE 2008 26th International Conference on Microelectronics (MIEL 2008) - Nis, Serbia and Montenegro (2008.05.11-2008.05.14)] 2008 26th International Conference on Microelectronics - An improved understanding of IGBT behavior under thermal stress

Benbahouche, Ly., Merabet, A., Zegadi, A.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 251 KB

english, 2008

3

[IEEE 2012 28th International Conference on Microelectronics (MIEL 2012) - Nis, Serbia (2012.05.13-2012.05.16)] 2012 28th International Conference on Microelectronics Proceedings - Failure Mechanisms and comparative study of ruggedness in IGBTs Devices (IR, IXYS)

Benbahouche, Ly., Merabet, A., Zegadi, A.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 281 KB

english, 2012

4

[IEEE 2012 19th International Conference on Microwaves, Radar & Wireless Communications (MIKON 2012) - Warsaw, Poland (2012.05.21-2012.05.23)] 2012 19th International Conference on Microwaves, Radar & Wireless Communications - A comprehensive analysis of failure mechanisms: Latch up and second breakdown in IGBT(IXYS) and improvement

Benbahouche, Ly., Merabet, A., Zegadi, A.

Рік:

2012

Файл:

PDF, 381 KB

2012

5

A detailed investigation on the failure mechanisms for IGBTs under successive short-circuit conditions

Ly. Benbahouche, A. Merabet, A. Zegadi

Журнал:

physica status solidi (c)

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.27 MB

english, 2012